萬睿視VAREX射線平板探測器的成像系統(tǒng)說明
更新時(shí)間：2023-03-13 點(diǎn)擊次數(shù)：743次
萬睿視VAREX射線平板探測器在工業(yè)和安全應(yīng)用中具有的圖像質(zhì)量，Varex Imaging基于非晶硅的探測器是工業(yè)和安全應(yīng)用中射線照相的基準(zhǔn)。可降低射線劑量，幫助正確診斷。應(yīng)用技術(shù)穩(wěn)定性得到大幅提高，并且通過電路技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)低噪聲、高畫質(zhì)的表現(xiàn)。
萬睿視VAREX射線平板探測器的產(chǎn)品特點(diǎn)如下：
1.元器件和傳感器全屏蔽保護(hù)，因此不會因輻照而老化；
2.穩(wěn)定的圖像質(zhì)量和超長的使用壽命；
3.高動態(tài)范圍；
4.無像素缺陷，因?yàn)槊總€像素點(diǎn)都是由數(shù)個獨(dú)立的像素點(diǎn)組成的；
5.幾乎可忽略的圖像延遲（小于0.1%）；
6.圖像讀取在被測物體運(yùn)動時(shí)進(jìn)行；
7.模塊化設(shè)計(jì)，是理想的無損檢測探測器。
萬睿視VAREX射線平板探測器的成像檢測系統(tǒng)由X射線源、被檢測工件、平板探測器成像系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等組成。其中的X射線源是用于產(chǎn)生一定能量的X射線穿透工件，X射線在工件內(nèi)部被吸收而產(chǎn)生強(qiáng)度上的差異，從而傳遞工件內(nèi)部的缺陷、形狀等信息到達(dá)平板探測器。
X射線源焦點(diǎn)尺寸越小，則得到的圖像清晰度就越高。為得到質(zhì)量較高的圖像，在X射線檢測中應(yīng)盡量選用焦點(diǎn)尺寸較小的X射線源，但在實(shí)際的工業(yè)探傷中，由于工件的厚度較大，就要求X射線有一定的功率以穿透被測工件，因而目前工業(yè)所用的X射線源焦點(diǎn)直徑通常在1.0mm以上。
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